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日本otsuka大塚DLC涂層厚度測量儀膜厚儀

日本otsuka大塚DLC涂層厚度測量儀膜厚儀顯微分光膜厚儀 OPTM series 是一種高精度的膜厚測量設備，適用于各種材料和應用場景。它的特點包括：
高精度測量：能夠精確測量膜厚，適用于需要高精度控制的工藝。
非破壞性測量：無需破壞樣品即可進行測量，適用于質量控制和研發。
多功能性：適用于多種材料和膜層，包括SiO2、SiN、ITO等。
易于操作：用戶界面友好，操作簡便。

產品型號：OPTM-A3
廠商性質：經銷商
更新時間：2025-10-13
訪問量：51

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聯系電話：13823182047

詳細介紹

日本otsuka大塚DLC涂層厚度測量儀膜厚儀
日本otsuka大塚DLC涂層厚度測量儀膜厚儀

產品特點

顯微分光膜厚儀 OPTM series 是一種高精度的膜厚測量設備，適用于各種材料和應用場景。它的特點包括：

高精度測量：能夠精確測量膜厚，適用于需要高精度控制的工藝。
非破壞性測量：無需破壞樣品即可進行測量，適用于質量控制和研發。
多功能性：適用于多種材料和膜層，包括SiO2、SiN、ITO等。
易于操作：用戶界面友好，操作簡便。

技術規格

測量原理：反射分光法（光干涉法）。
膜厚測量范圍：根據具體型號可能有所不同，但通常覆蓋從納米到微米級別。
重復精度：通常非常高，以確保測量的一致性和可靠性。
測量時間：快速，通常在幾秒內完成。
數據輸出：可以通過屏幕顯示或通過USB輸出到Excel等軟件進行進一步分析。

應用案例

半導體行業：

SiO2和SiN膜厚測定：用于半導體工藝中絕緣膜的精確測量。
粗糙基板上的膜厚測量：使用界面系數來補償基板表面的粗糙度對測量的影響。

FPD（平板顯示器）行業：

彩色光阻膜厚測定：確保彩色濾光片薄膜的均勻性。
ITO構造解析：測量透明電極材料的膜厚及其傾斜變化。

DLC涂層行業：

DLC涂層厚度測量：適用于高硬度、低摩擦系數的類金剛石涂層。

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